16 Juillet 2015
17e Congrès international de métrologie, du 21 au 24 septembre 2015
Thème : Evènements
Le Congrès international de métrologie se tiendra du 21 au 24 septembre 2015 à Paris-Porte de Versailles. Organisé conjointement avec Enova, le salon des technologies de l'électronique, mesure, vision et optique, le CIM est le lieu d’échanges techniques...
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